Specificaties:

  • Zeiss EVO 40 Scanning Electron Microscope (SEM)
  • Ametek EDAX Apollo X Energy Dispersive X-ray Analyzer (EDX)

 

Met behulp van de SEM kunnen kleine samples onderzocht worden, waarbij vergrotingen tot 20.000x tot de mogelijkheden behoren. Omdat de SEM ook is uitgerust met Energie Dispersieve Röntgen Microanalyse, kan de samenstelling semi-kwantitatief bepaald worden van bijvoorbeeld corrosieproducten of insluitingen. Er kan hierbij goed onderscheid gemaakt worden tussen deeltjes van koolstofstaal, roestvaststaal, non-ferro legeringen, en niet-metallische deeltjes zoals kunststof of zand. Alleen elementen zwaarder dan koolstof kunnen met deze techniek gedetecteerd worden.

 

Voorbeelden van SEM / EDX onderzoek:

  • Semi kwantitatieve analyse van insluitingen of fases
  • Analyse van vreemde deeltjes gevonden in olie of filters, waarmee de herkomst mogelijk herleid kan worden
  • Mapping van elementen: hoe zijn bepaalde elementen verdeeld in de microstructuur of bij een porositeit of insluiting
  • Breukvlakanalyse: met behulp van SEM onderzoek kan bepaald worden wat voor type breuk is opgetreden: brosse breuk, taaie breuk of vermoeiingsbreuk. E.e.a. is afhankelijk van de staat van het breukvlak (schoon en onbeschadigd)